材料测试技术作业

发布 2022-09-02 06:17:28 阅读 7020

姓名:徐谦哲。

学号:s141301221

从x射线衍射图像得到哪些方面的信息?它们分别有什么应用?各举一例说明原理,方法和实验步骤。

一、是衍射峰的位置。这方面的信息主要用于物相的鉴定、晶胞参数的精修、残余应力的测量。

二、是衍射峰的峰高或者面积,称之为强度。这方面的信息主要用于物相的含量、结晶度以及织构的计算。

三、是衍射峰的形状,称为线形。这方面的信息又包括两个方面,其一是衍射峰的宽度,我们可以用来计算亚晶尺寸的大小(常被称为晶粒大小)和微观应变的计算。另一个则是线的形状,主要是指峰形是否对称,这方面用来计算位错、层错等。

应用。1、晶体点阵参数的确定。

原理:x射线衍射法测定点阵参数是利用精确测量的晶体衍射线峰位2θ角数据,然后根据布拉格定律和点阵参数与晶面间距d值之间的关系式计算点阵参数的值。

测定已知多晶材料点阵常数的基本步骤:

1)获取衍射相:获取待测试样的粉末衍射相,用照相法或衍射仪法;

2)计算晶面间距d:根据衍射线的角位置计算晶面间距d;

3)标定指数hkl:标定各衍射线条的指数hkl(指标化);

4)计算点阵常数:内d及相应的hkl计算点阵常数 (a,b,c等)

5)消除误差,得到精确的点阵常数值。

2、结晶度的测定。

原理:两态分明的体系中衍射图由两部分简单叠加而成,一部分是晶态产生的衍射峰,另一部分非晶态产生的弥散隆峰。理论推导得出,质量结晶度公式:

其中,xc:质量结晶度;ic:晶体部分的衍射强度;ia:非晶体部分的衍射强度;k:单位质量非结晶态与晶态的相对衍射线系数,称总校正因子,理论上 k ≈ 1。

结晶度即结晶的完整程度,结晶完整的晶体,晶粒较大,内部质点排列比较规则,衍射线强、尖锐而且对称,衍射峰半高宽接近仪器测量宽度,即仪器本身的自然宽度。结晶度差的晶体,往往晶粒过于细小,缺陷较多,衍射峰宽阔而弥散。结晶度越差,衍射能力越弱,衍射峰越宽,直至消失在背景之中。

实验方法:有一些理论基础较好的方法,如常用的ruland方法。但这些方法均需要进行各种因子修正,实验工作量和数据处理工作量较大,应用并不普遍。

实验步骤:一) 样品的制备:将涤纶长丝剪成粉末状,然后用胶水均匀地粘在玻璃边上,要保证其密实、均匀。

二) 样品测定:

1)开机前的准备和检查

将制备好的试样插入衍射仪样品架,盖上顶盖关闭防护罩;开启水龙头,使冷却水流通;x光管窗口应关闭,管电流管电压表指示应在最小位置;接通总电源,接通稳压电源。

2)开机操作

开启衍射仪总电源,启动循环水泵;待准备灯亮后,接通x光管电源。缓慢升高管电压、管电流至需要值(若为新x光管或停机再用,需预先在低管电压、管电流下"老化"后再用)。打开计算机x射线衍射仪应用软件,设置合适的衍射条件及参数,使计数管在设定条件下扫描。

3)停机操作

测量完毕,缓慢顺序降低管电流、管电压至最小值,关闭x光管电源;取出试样;15分钟后关闭循环水泵,关闭水龙头;关闭衍射仪总电源、稳压电源及线路总电源。

3、晶粒大小的测定。

原理:材料中晶粒尺寸小于10nm时,将导致多晶衍射的衍射峰显著增宽。故根据衍射峰的增宽可以测定其晶粒尺寸。

这里需要指出,多晶材料中晶粒数目庞大,且形状不规则,衍射法所测得的“晶粒尺寸”是大量不同大小、不同衍射方向的晶粒的一种统计平均。

实验方法:用步进扫描测得待测样品的衍射强度谱线,该谱线的半高度b包含着样晶宽化和仪器宽化两部分。则β=b-b;如果标准样品与待测样品的强度曲线符合高斯函数,则β=(b2-b2)1/2。

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