2023年无机材料测试技术A卷

发布 2021-12-19 08:35:28 阅读 7743

2011~2012学年第二学期《无机材料测试技术》考试试卷a

一、填空题(共25分,每空1分)

1、第一个发现x射线的科学家是第一个进行x射线衍射实验的科。

学家是。2、莫塞来定律反映了材料产生的与其的关系。

3、同一元素的入kα1、入kα2、入kβ的相对大小依次为能量从小到大

的顺序是注:用不等式标出)

4、x射线分析技术的方法有。

5、扫描电子显微镜的电子成像主要有和。

6、像差分为和两类。

7、xrd、tem、sem、dta分别代表。

8、按激磁方式的不同,磁透镜分为和。

9、电子探针x射线显微分析中常用x射线谱仪有和。

10、测角仪在采集衍射图时,如果试样表面转到与入射线成30°角,则计数管与。

入射线所成角度为 ;能产生衍射的晶面,与试样的自由表面呈。

关系。二、名词解释(共15分,每小题3分)

1、k系辐射。

2、洛伦兹因数。

3、热重分析

4、景深和焦深。

5、激发电压。

三、问答题与计算题(共40分,每题8分)

1、如何选用滤波片材料和x射线管?

2、对于体心点阵结构的晶胞,当x射线在原子列上反射时,为什么只有晶面指数满足h+k+l为偶数的条件时,才会出现衍射?

3、某陶瓷坯料经衍射定性分析为高岭石、石英和长石原料组成,秤取2.588g样品做衍射实验,其中它们的最强线各为cps,已知参比强度各为.2,定量各原料的含量。

4、何为波谱仪和能谱仪?并比较波谱仪和能谱仪的优缺点。

5、何谓电磁透镜的像差?是怎样产生的? 如何来消除和减少像差?

四、综合分析题(共20分,每题10分)

1、分析比较电子探针和离子探针和俄歇谱仪的分辨率、分析样品表层深度和分析精、度。说明它们各自适用于分析哪类样品。

2、试总结x射线粉末衍射花样的背底**,并提出一些防止和减少背底的措施。

2019无机化学B卷

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2019测试技术 A卷答案

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2019无机化学 II 试题A卷

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