连续x射线谱产生机理。
能量为eu的电子与阳极靶的原子碰撞时，电子失去自己的能量，其中部分以光子的形式辐射，碰撞一次产生一个能量为hν的光子，这样的光子流即为x射线。
单位时间内到达阳极靶面的电子数目是极大量的，极大数量的电子射到阳极靶上的条件和时间不可能是一样的，绝大多数电子要经历多次碰撞，产生能量各不相同的辐射，因此出现连续x射线谱。
特征x射线谱的特征。
当管电压超过某临界值时特征谱才会出现，该临界电压称激发电压。
不同的阳极靶，激发电压不同，产生的特征谱的波长也不同。
当管电压继续增加时，特征谱强度增加，但对应的波长保持不变。
特征谱的波长不受管电压、管电流的影响，只决定于阳极靶材元素的原子序数。
莫塞莱定律——特征x射线谱的波长只与阳极靶物质的原子结构有关，与其它外界因素无关，是物质的固有特性。
测角仪的构造。
1）样品台h：位于测角仪中心，可绕o轴旋转，o轴与台面垂直，平板状试样c放置于样品台上，要与o轴重合，误差≤0.1mm。
2）x射线源：x射线源是由x射线管的靶t上的线状焦点s发出的，s也垂直于纸面，位于以o为中心的圆周上，与o轴平行。
3）光路布置：发散的x射线由线状焦点s发出，透射到试样上，衍射线中可以收敛的部分在光阑f处形成焦点，然后进入计数管g。光学布置上要求s、g(实际是f)位于同一圆周上，这个圆周叫测角仪圆。
测角仪圆直径可为φ401，435，500，600。
a和b是获得平行入射线和衍射线的狭缝。
4）测角仪台面：狭缝b、光阑f和计数管g固定于测角仪台e上，台面可以绕o轴转动，计数管的角位置可以从刻度盘k上读取。
5）测量动作：样品台h和测角仪台e可以分别绕o轴转动，也可机械连动。
测角仪的衍射几何条件：
满足布拉格方程反射条件。
满足衍射线的聚焦条件。
2）聚焦圆。
x射线管的焦点s、样品表面o、计数器接收光阑f位于聚焦圆。
满足布拉格方程的(hkl)反射是向四面八方的。
平行于试样表面的（hkl）晶面满足入射角=反射角=θ的条件。
聚焦圆的圆周角为（π-2θ）
但聚集条件是：试样应当是弯曲的，试样表面应永远保持与聚焦圆有相同的曲率。
衍射仪的衍射花样均来自于与试样表面相平行的那些反射面的反射。
r2比值法。
1）已知晶体结构标定步骤：
测量各环直径di，算出半径ri；
计算ri2，ri2/r12;
将ri2/r12乘2或3，使比值接近整数，取整后和已知各晶系r2值序列比较，并写出相应的i。
2）标定未知晶体步骤：
测量各环直径，计算r2比值，与各晶系递增规律对照，确定未知晶体所属晶系；
计算di值，与事先从已掌握资料中得到的各物相卡片上的dti值比较，确定样品的物相。
例：标定tic多晶电子衍射图。
已知lλ＝如衍射环不圆，可先测量两个正交方向的直径，再算得平均的ri。
编号 12 34 5
di 19.0 22.2 31.6 36.6 38.5
ri 9.38 10.93 15.36 17.88 18.88
ri2 87.89 119.36 236.39 319.52 356.27
ri2/r12 1 1.36 2.69 3.64 4.05
ri2/r12)×3 3 4.07 8.07 10.91 12.16
n3 4 811 12
hkl}i 111 200 220 311 222
原子序数衬度是由于试样表面物质原子序数（或化学成分）差别而形成的衬度。利用对试样表面原子序数（或化学成分）变化敏感的物理信号作为显像管的调制信号，可以得到原子序数衬度图像。
背散射电子像、吸收电子像的衬度都含有原子序数衬度，而特征x射线像的衬度就是原子序数衬度。
热分析：指在程序控制温度的条件下，测量物质的物理性质随温度变化的函数关系的技术。
热分析技术的基础：物质在加热、冷却过程中，随着物理状态、化学状态的变化（熔融、升华、凝固、脱水、氧化、结晶、相变、化学反应等），通常伴随有相应的热力学性质（热焓、比热、导热系数等）或其它性质（质量、力学性质、电阻等）的变化。
对某些性质（参数）的测定，可分析研究物质的物理、化学变化过程。
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建议 1.现在的初中老师很少有能够品鉴诗歌的。2.字数和格式就会与评判体制有冲突。3.按照新教材的语文教材的培养目标，一般初中生所要求的作文类型 有命题作文，半命题作文，条件作文，材料作文，读后感，看图作文，不要求诗歌，教材中的诗歌学习目的只是理解，也没有写诗歌的训练。4.不同老师对诗歌的理解能力和...
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