1 实验目的。
熟悉arm realview mdk 环境下软件的开发。
通过实验掌握 led 的显示控制方法。
了解 s3c2410x 处理器uart 相关控制寄存器的使用；掌握 arm 处理器串行通信的软件编程方法。
了解实时时钟的硬件控制原理及设计方法；掌握 s3c2410x 处理器的rtc 模块程序设计方法。
掌握四型实验箱扩展输入输出端口的原理和应用；掌握矩阵式键盘原理及编程方法。
通过实验掌握 iic 串行数据通信协议的使用；通过实验加深对 iic 总线工作原理的掌握。
掌握 s3c2410x 处理器的lcd 控制器的使用；通过实验掌握液晶显示文本及图形的方法与程序设计。
通过实验掌握 eeprom 器件的读写访问方法；通过实验掌握 s3c2410x 处理器的iic 控制器的使用。
了解 s3c2410x 处理器adc 相关控制寄存器的使用；通过实验掌握模数转换（adc）的原理；掌握 s3c2410x 处理器的adc 转换功能。
了解 s3c2410x 处理器pwm timer 相关控制寄存器的使用；掌握运用 pwm 控制直流电机的方法。
通过完成本次实验掌握arm 嵌入式软件开发与调试技术。
2实验设备。
硬件：embest edukit-iv 平台，ulink2 **器套件，pc 机；
软件：μvision ide for arm 集成开发环境，windows 98/2000/nt/xp。
3实验要求。
lcd屏幕上显示本人**、学号、姓名等信息。
换屏显示菜单功能：a. com test;
b. ad test;
c. motor test;
d. iic test
e: rtc test
合理地布置界面，每个区域（或每一屏）显示下列测试信息。
com测试：完成键盘从一个com2口输出，从另一个com2输入且在lcd上显示。若通讯过程出现不正常的情况，应有出错提示信息及报警功能；
ad 测试：通过调节旋钮监测模拟量的输入。其模拟量大小同时在lcd及led上显示（精确到1%）；
motor测试：以a/d调节比例值作为占空比控制直流电机的转速，并显示占空比；
iic 测试：在lcd上显示存入在eeprom的数据。当有键盘输入时，存入epprom中读数，且读出再显示；
rtc测试：从eeprom中获取设定的时间，并显示当今的时间。
4 实验分析。
入手本次实验的基础是掌握lcd显示文本图形的程序设计以及矩阵键盘原理与编程方法，熟悉模块化设计方法，将我们这几个平时学习过的模块连接起来，组合成一个可以实现人机交互的程序：
在设计程序时应该明白这个道理：单片机程序的编写的实质是对其寄存器的编写。
com test：设计的关键是要弄清楚utxhi，utrstat，urxhi的作用与控制方法，知道应该将它们设为何种状态已达到传输与接收的目的。
ad test：硬件很简单，与其相关的寄存器只有adc 控制寄存器（adccon）和adc 数据寄存器（adcdat），对这两个寄存器进行正确的设置已达到控制adc的目的，但值得指出的是该实验模块同时包括了led的显示等其它内容，需要正确使用模块化设计方法来达到简化程序的目的，最后还应adc的电路结构有所了解，知道预分频的概念。
motor test:与ad test实验连接的非常紧密，应该掌握定时器减法缓冲寄存器（tcntbn）和比较缓冲寄存器(tcmpbn)及用它们来控制pwm 输出信号的占空比的方法，在实验中可以固定缓冲寄存器为1024，再将ad转换值赋给比较缓冲寄存器即可控制电机转速。
iic test：处理器通过iic 接口与外部串行器件进行数据传送，需要使用到如下寄存器：iic 总线控制寄存器iiccon，iic 总线状态寄存器iicstat，iic 总线地址寄存器 iicadd，iic 总线发送接收移位寄存器iicds。
需要掌握通过iic进行读写操作的程序设计以及iic 中断使能设置。
rtc test：本次实验中最困难的实验模块，关键是通过eeprom获取设定的时间并且能在设定时间后将设定后的时间在lcd上正常显示，此实验模块主要用到了iic的读写的使用方法，以及需要rtc的时间寄存器有效的设定，各种数据类型间的转换也是本实验模块的难点。
5 实验内容。
5.1 实验总流程。
如图1：图1 实验总流程。
5.2 实验内容。
首先将lcd显示与kaypad连接相关的函数准备好，这一点我是参考的demo例程。
com test:设两个数组sendbytes[20]和receivebytes[20]，前者用来保存发送的字符，后者保存接受的字符；给按键得到的字符f_ucchar初始化，再判断它是否为fun，如果不是，则保存所按的键值到sendbytes[20]，并计算按键的次数num，如果是，则将sendbytes[num]里的字符通过uart0发送至uart1给receivebytes[num];发送完毕后比较两个数组是否一致，如果不一致，则报错，图2为其流程。
图2 com test流程图。
ad test:对ad寄存器做相应设置：adccon：
允许分频并设预分频值大小，选择模拟信道输入，启动转换。adcdat：uscondata=radcdat0&0x3ff，即保留x坐标转换值至uscondata；以及将iic初始化设置：
确认信号f_ngetack清零，使能中断，iic初始化：设定从设备地址，使能ack 和iic 总线中断，设置iicclk 为mclk/512，清除pending 位以便响应中断。使能发送/接收中断。
初始判断是否按fun，如果否，启动按键设置，判断是否按键，如果否，一直等待，如果按键，显示ad转换值，并在led显示，如果按fun，回主界面，图3为其流程。
图3 ad test流程图。
motor test:行键值清零，判断是否按键，如果按键：对ad寄存器做相应设置，获取ad模拟量转化结果，定时器初始化：
端口b控制寄存器设置，端口上拉寄存器设置，定时器配置与控制寄存器设置等。pwm输出信号占空比控制设置，定时器自动重载，倒相，更新设置；在实验中可以固定缓冲寄存器为1024，再将ad转换值赋给比较缓冲寄存器即可控制电机转速，图4为其流程图。
图4 motor test流程图。
iic test：确认信号f_ngetack清零，使能中断，初始化iic，按键行地址清零，判断按键是否为“*”或“fun”，如果既没有按“*”又没有按“fun”，将按键字符写入eeprom，并在lcd逐个显示，如果是按“*”结束写操作，并在eeprom中将键值读出并显示，如果按“fun”,回主界面，图5为其流程图。
图5 iic test流程图。
rtc test：rtc初始化：rtc控制使能，相应的年月日等寄存器初始化；iic初始化，将eeprom的值读入rtc寄存器并做相应时间显示，判断是否按键，如果是“fun”，设定时间，如果是其它键，返回主界面，实验中需考虑很多细节问题，例如：
对iic的读写操作都应该对其初始化；设置按键时如何将设定的值有效的读与写，实验中的难点之一是如何将数组中的字符转换为整型量，图6为其流程图。
图6 rtc test流程图。
6 程序调试详解。
6.1 无法进行菜单选择。
初始时遇到一个头疼的问题就是无法进行菜单选择，经过设置断点，标志语句，单步运行的方法终于找到程序的故障点如下：
初始的按键判断程序：
rcpldkpladdr = 0x00键盘行线置0
f_nkeypress = 0标志位清零。
while(!f_nkeypress如有按键进入中断服务程序，将标志位置1
keypad_getkey(&f_ucchar); 按键值获取。
f_nkeypress = 0标志位清零。
其终端服务程序片段：
if(status & 0x40判断irqkey是否按下。
问题出在按键之后通过中断服务程序后标志位f_nkeypress置1，再跳出中断服务程序执行按键获取，可能会因为按键的抖动等原因无法获取相应的键值，解决方法是将按键获取语句直接写到中断服务程序里面，在标志位置1之后即获取键值，即：
if(status & 0x40)
这样便能正常选择菜单。
6.2 进行com test编程时，显示的发送字符与接收字符相同，但比较后报错。
经过反复调试，最后发现将系统初始化sys_init();中的串口选择改为uart1；如uart_select(uart1);则程序功能正常，具体原因不太明白。
6.3 iic test 以'*'为结束标志符，但按‘*’结束写入eeprom之后却将‘*’写进eeprom
问题的原因还是在编写程序的逻辑思路不清晰，由于是先判断按键是否为‘*’或‘fun’在确定是否按键，所以在按‘*’之后，数组datas_in会继续存入该键值，然后再统一写入eeprom，因为不想改变已编好程序的整体框架，所以在存入数组datas_in之前再进行键值的判断：
if(f_ucchar=='
break;
如果为‘*’则跳出存入数组datas_in字符的while循环。
在编写程序的过程中还遇到一些小的问题，比如com test最开始编写完成之后本意是想接受一串字符，但只能接收一个字符便停止，还有iic test在按某一个键值后会不停的连续写入并显示该键值等等，这些都是编写程序时思路不清晰造成的，经过耐心的理清程序的过程，便解决了这些问题。
程序附录：main
嵌入式ARM嵌入式系统设计
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