2010级《材料近代研究方法》期中试卷。
合分人复查人。
说明：1．本课程为开卷考试。
2. 禁止携带通讯工具。
第套题。1、 衍衬像。
2、系统消光。
3、ebsd
4、 epma
5、晶带定律。
第套题。1、下面哪种分析方法中得到的图像不是直接得到的。（
a) tem， b) om， c）sem， d) xrd
2、在x射线衍射分析中，pdf代表的中文意义是（ ）
a)、粉末衍射卡，b）、文件格式， c）美国材料测试协会，d） 中国材料测试协会。
3、电子由m跃迁到k层，n跃迁到l层，对应谱线应命名标为( )符号。
a）k α和kβ b）k α和kβ c）kβ和lβ d）kα和lα
4、wds能谱仪所探测采集的信号是（ ）
a）二次电子；b）弹性散射电子；
c）非弹性散射电子；d）特征x射线。
5、在tem中，下面哪种光栏又称为场限光栏（ ）
a)、第一聚光镜光栏；b)第二聚光镜光栏；
c）物镜光栏；d) 选区光栏。
第套题。第套题。
1）用tem进行图像分析时，影响分辨率的主要因素是物镜。
2）特征x射线的产生机理与靶物质的原子结构有关，其波长的平方根与元素的原子序数之间呈线性关系。
3）布拉格定律和电子衍射公式理论上等价。
4）二次电子像的分辨率低于背散射电子像的分辨率。
5|）2023年德国科学家冯。劳厄荣获诺贝尔物理学奖，主要是表彰他通过x射线晶体衍射现象证实了后x射线的本质。
第套题。第i套题。
1. 请以单晶衍射为例，简述ed和xrd异同点。
2. 扫描电子显微图像具有很强的立体感，试画**释其原因。
3. （1）影响显微图像分辨率的因素有哪些？（2）简述eds和wds的特点。
第套题。1、某材料属于立方晶系，用xrd测得其各衍射峰对应的衍射角θ分别为：13.
75°, 15.93°, 22.84°, 27.
08°, 28.39°, 33.30°, 36.
75°，37.87°，42.25°。
试标定各衍射线的晶面指数，确定其属于哪种点阵形式。λ=0.1542nm。
（15分）
2. 下图是某物相（面心立方a=4.3埃）的ted衍射图，试标定该衍射谱。
已知相机常数为24.8毫米埃，r1为10毫米，r2为25.18毫米，θ=83°。
（15分）.
材料近代研究方法期中试卷A
期中考试以及知识点总结。一，名词解释 1 衍衬像。2 系统消光。3 ebsd 4 epma 5 晶带定律。二，选择题 1 下面哪种分析方法中得到的图像不是直接得到的。a tem，b om，c sem，d xrd 2 在x射线衍射分析中，pdf代表的中文意义是 a 粉末衍射卡，b 文件格式，c 美国材...
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