期中考试以及知识点总结。
一，名词解释：
1、 衍衬像。
2、系统消光。
3、ebsd
4、 epma
5、晶带定律。
二，选择题：
1、下面哪种分析方法中得到的图像不是直接得到的。（
a) tem， b) om， c）sem， d) xrd
2、在x射线衍射分析中，pdf代表的中文意义是（ ）
a)、粉末衍射卡，b）、文件格式， c）美国材料测试协会，d） 中国材料测试协会。
3、电子由m跃迁到k层，n跃迁到l层，对应谱线应命名标为( )符号。
a）k α和kβ b）k α和kβ c）kβ和lβ d）kα和lα
4、wds能谱仪所探测采集的信号是（ ）
a）二次电子；b）弹性散射电子；
c）非弹性散射电子；d）特征x射线。
5、在tem中，下面哪种光栏又称为场限光栏（ ）
a)、第一聚光镜光栏；b)第二聚光镜光栏；
c）物镜光栏；d) 选区光栏。
三，判断题。
1）用tem进行图像分析时，影响分辨率的主要因素是物镜。
2）特征x射线的产生机理与靶物质的原子结构有关，其波长的平方根与元素的原子序数之间呈线性关系。
3）布拉格定律和电子衍射公式理论上等价。
4）二次电子像的分辨率低于背散射电子像的分辨率。
5|）2023年德国科学家冯。劳厄荣获诺贝尔物理学奖，主要是表彰他通过x射线晶体衍射现象证实了后x射线的本质。
四，简答题：
第i套题。1. 请以单晶衍射为例，简述ed和xrd异同点。
2. 扫描电子显微图像具有很强的立体感，试画**释其原因。
3. （1）影响显微图像分辨率的因素有哪些？（2）简述eds和wds的特点。
五．实验设计，图像解析以及计算。
1、某材料属于立方晶系，用xrd测得其各衍射峰对应的衍射角θ分别为：13.75°, 15.
93°, 22.84°, 27.08°, 28.
39°, 33.30°, 36.75°，37.
87°，42.25°。试标定各衍射线的晶面指数，确定其属于哪种点阵形式。
λ=0.1542nm。（15分）
2. 下图是某物相（面心立方a=4.3埃）的ted衍射图，试标定该衍射谱。
已知相机常数为24.8毫米埃，r1为10毫米，r2为25.18毫米，θ=83°。
（15分）.
射线与物质的相互作用？x射线的吸收？特征x射线？光电效应？莫塞莱定律？
射线衍射的充分必要条件？极限条件？简单点阵的消光规律？
射线衍射的方法及其特点？
的应用？晶粒度的测定公式？
定性分析的原理？
6.电磁透镜？像差？ tem成像原理？tem分辨率及其影响因素？景深及其影响因素？
的主要部件？ 成像方式及其特点？光栏（阑）的作用？
8.电子衍射原理及其与xrd的异同点？选区电子衍射？
9.电子衍射的基本公式？多晶体和单晶体电子衍射花样的标定方法？
10.热分析方法的种类（dta、dsc、tg、dtg）、特点、表示方法和影响因素？
11. xps的原理及其表示方法？aes的原理及其表示方法？
12. spm？stm和afm的成像原理？对样品要求？分辨率？
13. sem成像原理？成像种类及其特点？sem的样品制备？eds和wds的特点？om成像原理？
14.红外光谱的产生原理和选律？表示方法？提供的信息？制样方法？
15.拉曼散射和拉曼位移？拉曼光谱的产生原理、选律及其表示方法？
材料近代研究方法期中试卷B
2010级 材料近代研究方法 期中试卷。合分人复查人。说明 1 本课程为开卷考试。2.禁止携带通讯工具。第套题。1 衍衬像。2 系统消光。3 ebsd 4 epma 5 晶带定律。第套题。1 下面哪种分析方法中得到的图像不是直接得到的。a tem，b om，c sem，d xrd 2 在x射线衍射分...
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