仪器综合考试大纲

873仪器综合考试大纲（2014版）

一、考试组合。

本科目考试有以下三个选项：a——数字电子技术部分占75分， b——自动控制原理部分占75分，c——工程光学部分占75分。

报考考生可在a、b、c三个选项中任选两项，共150分。

二、数字电子技术部分考试大纲。

一）主要内容及基本要求。

1. 逻辑代数基础。

逻辑代数基本逻辑运算、符号表示，基本公式及常用公式，逻辑代数的四种表示方法及转换；

逻辑函数化简法：公式法和卡诺图法，具有约束项的卡诺图法化简，多输出逻辑函数的卡诺图化简；

2. 门电路。

ttl与非门的工作原理、输入信号噪声容限及抗干扰能力、输入端负载特性、平均传输时间、动态尖峰电流及其解决措施、有源泄放电路、抗饱和肖特基电路。

oc门上拉电阻的计算，三态门的使用特点及应用。

mos门电路特点，传输门工作原理及应用。

3. 组合逻辑电路。

组合逻辑电路分析与设计方法。

全加/全减器工作原理及其在函数发生方面的应用，数据选择器和译码器工作原理及其扩展以及在函数发生方面的应用，编码器工作原理及其在组合逻辑电路中的应用。

4. 触发器。

rs触发器、jk触发器、d触发器、t触发器和t’触发器的功能、特性方程、特性表、约束条件、工作条件。

同步触发器的空翻现象，主从触发器的一次变化问题。

会认各类触发器的符号，会进行各类触发器的相互转换。

5. 时序逻辑电路。

时序逻辑电路的概念。

寄存器、计数器工作原理。

同步时序电路分析，异步时序电路分析，自启动判断。同步时序逻辑电路的设计，有输入变量的同步时序电路设计，会从实际问题出发进行逻辑抽象、状态分配、等价状态合并、会画次态卡诺图、输出卡诺图，求输出方程、驱动方程，画逻辑图，检查自启动，会自启动设计。

熟悉集成计数器（74lslsls290）的功能端的使用，会使用其分析和设计时序逻辑电路。会使用异步复位法、预置数法设计，会采用串行进位方式和并行进位方式设计电路。

6. 脉冲波形的产生和整形。

555时基电路工作原理。

施密特触发器、单稳态触发器、多谐振荡器的工作特性。

掌握如何用555电路构成施密特触发器、单稳态触发器、多谐振荡器，会认图形符号。

施密特触发器：会画电压传输特性图。

单稳态触发器和多谐振荡器：会画电压波形图，会计算输出脉冲周期和占空比并会通过调整电路参数调整周期。

7. 半导体存储器。

rom类型及使用rom设计逻辑电路。

eprom地址扩展和位扩展方法。

8. 模数-数模电路。

梯形、倒梯形dac工作原理，会计算d/a转换电压，会计算d/a转换器的转换精度。

掌握并联比较式adc、逐次渐进式adc和双积分型adc的转换过程，几种类型adc的转换精度、转换速度的比较。会画电压转换波形图，会根据图形求输出数字量。

三、自动控制原理部分考试大纲。

一）复习内容及基本要求。

1．自动控制的一般概念。

主要内容：自动控制的概念；基本控制方式：开环、闭环（反馈）控制；自动控制的性能要求。

基本要求：掌握反馈控制原理与动态过程的概念；由给定物理系统建数学模型和原理方块图。

2．数学模型。

主要内容：传递函数及动态结构图；典型环节的传递函数；结构图的等效变换、梅森公式。

基本要求：掌握典型环节的传递函数；闭环系统动态结构图的绘制；熟练结构图的等效变换。

3．时域分析法。

主要内容：典型响应及性能指标、一、二阶系统的分析与计算。系统稳定性的分析与计算：劳斯、赫尔维茨判据。稳态误差的计算。

基本要求：掌握典型响应（以。

一、二系统的阶跃响应为主）及性能指标计算；系统参数对响应的影响；熟练应用劳斯、古尔维茨判据；系统稳态误差、终值定理的使用条件。

4．根轨迹法。

主要内容：根轨迹的概念与根轨迹方程；根轨迹的绘制法则；零、极点分布与阶跃响应性能的关系。

基本要求：掌握根轨迹法则，熟练根轨迹的绘制；利用根轨迹估算阶跃响应的性能指标。

5．频率响应法。

主要内容：线性系统的频率响应；典型环节的频率响应及开环频率响应；nyquist稳定判据和对数频率稳定判据；稳定裕度及计算；闭环幅频与阶跃响应的关系，峰值及频宽的概念；开环频率响应与阶跃响应的关系，三频段（低频段，中频段和高频段）的分析方法。

基本要求：掌握典型环节和开环系统频率响应曲线(nyquist曲线和对数幅频、相频曲线)的绘制；系统稳定性判据（nyquist判据和对数判据）；熟练相稳定裕度和模稳定裕度的计算；明确最小相位和非最小相位系统的差别，掌握截止频率和带宽的概念。

6．线性系统的校正方法。

主要内容：系统设计问题概述；串联校正特性及作用：超前、滞后及pid；校正设计的频率法及根轨迹法；反馈校正的作用及计算要点。

基本要求：掌握校正装置的作用及频率法的应用；掌握以串联校正为主，反馈校正为辅的设计方法；掌握以频率法为主，根轨迹法为辅的计算方法。

7．线性连续系统的状态空间分析方法。

主要内容：状态方程的列写；状态方程的解（矩阵指数及其性质）；系统等价变换；状态方程与传递函数的关系；系统的可控性、可观性及其判据；状态反馈及极点配置。

基本要求：对于单输入单输出线性定常连续系统，熟练运用系统可控性、可观性判据，掌握状态反馈及极点配置方法。

四、工程光学部分考试大纲。

一、复习内容及基本要求。

1、应用光学的基本定律与成像概念。

主要内容：掌握应用光学的基本定律，成像的基本概念和完善成像条件，光路计算与近轴光学系统，球面光学成像系统。

基本要求：重点是应用光学的四个基本定律，近轴光线的光路计算及球面光学成像系统的物象位置关系。

2、理想光学系统。

主要内容：掌握理想光学系统与共线成像理论，理想光学系统的基点与基面，理想光学系统的物像关系，理想光学系统的放大率，理想光学系统的组合，透镜。

基本要求：重点是实际光学系统的基点位置和焦距计算，各类透镜的光学性质，**法求像、解析法求像，理想光学系统的组合及放大率。

3、平面与平面系统。

主要内容：掌握平面镜成像、平行平板、反射棱镜、折射棱镜与光楔。了解光学材料的光学特性。

基本要求：重点是平面镜、平行平板、反射棱镜、折射棱镜与光楔的成像特性。

4、光学系统的光束限制。

主要内容：掌握照相系统和光阑，望远镜系统中成像系统的光束的选择，显微镜系统中的光束限制与分析。

基本要求：重点是与成象光束位置和大小相关的术语概念，以及照相系统、望远镜系统、显微镜系统中的光束限制与分析。

5、典型光学系统与现代光学系统。

主要内容：掌握眼睛及其光学系统的特性，对放大镜、显微镜系统、望远镜系统、目镜、摄影系统、投影系统的物镜和目镜的结构型式及其主要光学参数深入理解。掌握光电系统的基本组成及光学特性。

基本要求：重点是眼睛、放大镜、显微镜系统、望远镜系统、摄影系统的成像原理及其主要光学参数；并掌握光电系统的基本组成及光学特性。

8、光的电磁理论基础。

主要内容：掌握光的电磁性质、光在电介质分界面上的反射和折射规律；掌握光波的叠加定律和叠加条件，深入理解干涉、拍频、驻波、偏振等各种现象的产生条件和现象；理解单色光、准单色光、复色光等光波的傅立叶变换。

基本要求：掌握光的电磁波理论基本概念，学会用数学方法描绘波的叠加，了解菲涅耳公式。

9、光的干涉和干涉系统。

主要内容：理解光波的干涉条件，掌握杨氏干涉实验的产生条件和试验现象；掌握干涉条纹的可见度的定义和影响因素；掌握平板的双光束干涉的基本原理，学会分析典型的双光束干涉系统及其应用；深入理解平行平板的多光束干涉的基本原理，了解其应用。

基本要求：掌握等倾干涉和等厚干涉的工作原理和应用方法；了解双光束干涉条纹的形成原理和影响条纹质量的因素；掌握多光束干涉的工作原理。

10、光的衍射。

主要内容：了解光波的标量衍射理论，掌握典型孔径的夫琅和费衍射的工作原理和现象；理解光学成像系统的衍射和分辨本领之间的相互关系；掌握多缝夫琅和费衍射的工作原理和试验现象，学会衍射光栅的分析方法。

基本要求：掌握惠更斯-菲涅耳原理；掌握夫琅和费单缝、双缝衍射和圆孔衍射的工作原理和在工程技术中的应用方法；了解衍射光栅和光栅光谱仪。

11、光的偏振和晶体光学基础。

主要内容包括：偏振光概述；光在晶体中的传播；光波在晶体表面的折射和反射（惠更斯做图法求取光线方向）；晶体偏振器件；偏振的矩阵表示；偏振光的变换和测定；

基本要求：掌握偏振光的基本概念和偏振器件的基本原理；了解基本的偏振现象（马吕斯定律和偏振干涉）；了解偏振的矩阵表示及相关计算。

仪器综合考试大纲

仪器综合考试大纲

《智能仪器综合课程设计》课程大纲

环境仪器分析大纲

其他用户还读了