场效应管 FET 的工作原理总结

发布 2019-05-23 13:21:40 阅读 4723

n沟道和p沟道结型场效应管的工作原理完全相同,现以n沟道结型场效应管为例,分析其工作原理。

n沟道结型场效应管工作时,需要外加如图1所示的偏置电压,即在栅-源极间加一负电压(vgs<0),使栅-源极间的p+n结反偏,栅极电流ig≈0,场效应管呈现很高的输入电阻(高达108ω左右)。在漏-源极间加一正电压(vds>0),使n沟道中的多数载流子电子在电场作用下由源极向漏极作漂移运动,形成漏极电流id。id的大小主要受栅-源电压vgs控制,同时也受漏-源电压vds的影响。

因此,讨论场效应管的工作原理就是讨论栅-源电压vgs对沟道电阻及漏极电流id的控制作用,以及漏-源电压vds对漏极电流id的影响。

转移特性:在uds一定时, 漏极电流id与栅源电压ugs之间的关系称为转移特性。

在ugs(off)≤ugs≤0的范围内, 漏极电流id与栅极电压ugs的关系为。

2) 输出特性:输出特性是指栅源电压ugs一定, 漏极电流id与漏极电压uds之间的关系。

1.vgs对沟道电阻及id的控制作用。

图2所示电路说明了vgs对沟道电阻的控制作用。为便于讨论,先假设漏-源极间所加的电压vds=0。当栅-源电压vgs=0时,沟道较宽,其电阻较小,如图2(a)所示。

当vgs<0,且其大小增加时,在这个反偏电压的作用下,两个p+n结耗尽层将加宽。由于n区掺杂浓度小于p+区,因此,随着|vgs| 的增加,耗尽层将主要向n沟道中扩展,使沟道变窄,沟道电阻增大,如图2(b)所示。当|vgs| 进一步增大到一定值|vp| 时,两侧的耗尽层将在沟道**合拢,沟道全部被夹断,如图2(c)所示。

由于耗尽层中没有载流子,因此这时漏-源极间的电阻将趋于无穷大,即使加上一定的电压vds,漏极电流id也将为零。这时的栅-源电压称为夹断电压,用vp表示。

上述分析表明,改变栅源电压vgs的大小,可以有效地控制沟道电阻的大小。若同时在漏源-极间加上固定的正向电压vds,则漏极电流id将受vgs的控制,|vgs|增大时,沟道电阻增大,id减小。上述效应也可以看作是栅-源极间的偏置电压在沟道两边建立了电场,电场强度的大小控制了沟道的宽度,即控制了沟道电阻的大小,从而控制了漏极电流id的大小。

2.vds对id的影响。

设vgs值固定,且vp在vds较小时,它对id的影响应从两个角度来分析:一方面vds增加时,沟道的电场强度增大,id随着增加;另一方面,随着vds的增加,沟道的不均匀性增大,即沟道电阻增加,id应该下降,但是在vds较小时,沟道的不均匀性不明显,在漏极附近的区域内沟道仍然较宽,即vds对沟道电阻影响不大,故id随vds增加而几乎呈线性地增加。随着vds的进一步增加,靠近漏极一端的p+n结上承受的反向电压增大,这里的耗尽层相应变宽,沟道电阻相应增加,id随vds上升的速度趋缓。

当vds增加到vds=vgs-vp,即vgd=vgs -vds=vp(夹断电压)时,漏极附近的耗尽层即在a点处合拢,如图3(b)所示,这种状态称为预夹断。与前面讲过的整个沟道全被夹断不同,预夹断后,漏极电流id≠0。因为这时沟道仍然存在,沟道内的电场仍能使多数载流子(电子)作漂移运动,并被强电场拉向漏极。

若vds继续增加,使vds>vgs-vp,即vgd<vp时,耗尽层合拢部分会有增加,即自a点向源极方向延伸,如图3(c),夹断区的电阻越来越大,但漏极电流id却基本上趋于饱和,id不随vds的增加而增加。因为这时夹断区电阻很大,vds的增加量主要降落在夹断区电阻上,沟道电场强度增加不多,因而id基本不变。但当vds增加到大于某一极限值(用v(br)ds表示)后,漏极一端p+n结上反向电压将使p+n结发生雪崩击穿,id会急剧增加,正常工作时vds不能超过v(br)ds。

从结型场效应管正常工作时的原理可知:① 结型场效应管栅极与沟道之间的p+n结是反向偏置的,因此,栅极电流ig≈0,输入阻抗很高。② 漏极电流受栅-源电压vgs控制,所以场效应管是电压控制电流器件。

③ 预夹断前,即vds较小时,id与vds间基本呈线性关系;预夹断后,id趋于饱和。

p沟道结型场效应管工作时,电源的极性与n沟道结型场效应管的电源极性相反。

结型场效应管的输入电阻虽然可达106~109,但在要求输入电阻更高的场合,还是不能满足要求。而且,由于它的输入电阻是pn结的反偏电阻,在高温条件下工作时,pn结反向电流增大,反偏电阻的阻值明显下降。与结型场效应管不同,金属-氧化物-半导体场效应管(mosfet)的栅极与半导体之间隔有二氧化硅(sio2)绝缘介质,使栅极处于绝缘状态(故又称绝缘栅场效应管),因而它的输入电阻可高达1015。

它的另一个优点是制造工艺简单,适于制造大规模及超大规模集成电路。

mos管也有n沟道和p沟道之分,而且每一类又分为增强型和耗尽型两种,二者的区别是增强型mos管在栅-源电压vgs=0时,漏-源极之间没有导电沟道存在,即使加上电压vds(在一定的数值范围内),也没有漏极电流产生(id=0)。而耗尽型mos管在vgs=0时,漏-源极间就有导电沟道存在。

在一块掺杂浓度较低的p型硅衬底上,用光刻、扩散工艺制作两个高掺杂浓度的n+区,并用金属铝引出两个电极,分别作漏极d和源极s。然后在半导体表面复盖一层很薄的二氧化硅(sio2)绝缘层,在漏-源极间的绝缘层上再装上一个铝电极,作为栅极g。另外在衬底上也引出一个电极b,这就构成了一个n沟道增强型mos管。

显然它的栅极与其它电极间是绝缘的。图 1(a)、(b)分别是它的结构示意图和代表符号。代表符号中的箭头方向表示由p(衬底)指向n(沟道)。

p沟道增强型mos管的箭头方向与上述相反,如图 1(c)所示。

1.vgs对id及沟道的控制作用。

mos管的源极和衬底通常是接在一起的(大多数管子在出厂前已连接好)。从图1(a)可以看出,增强型mos管的漏极d和源极s之间有两个背靠背的pn结。当栅-源电压vgs=0时,即使加上漏-源电压vds,而且不论vds的极性如何,总有一个pn结处于反偏状态,漏-源极间没有导电沟道,所以这时漏极电流id≈0。

若在栅-源极间加上正向电压,即vgs>0,则栅极和衬底之间的sio2绝缘层中便产生一个垂直于半导体表面的由栅极指向衬底的电场,这个电场能排斥空穴而吸引电子,因而使栅极附近的p型衬底中的空穴被排斥,剩下不能移动的受主离子(负离子),形成耗尽层,同时p衬底中的电子(少子)被吸引到衬底表面。当vgs数值较小,吸引电子的能力不强时,漏-源极之间仍无导电沟道出现,如图1(b)所示。vgs增加时,吸引到p衬底表面层的电子就增多,当vgs达到某一数值时,这些电子在栅极附近的p衬底表面便形成一个n型薄层,且与两个n+区相连通,在漏-源极间形成n型导电沟道,其导电类型与p衬底相反,故又称为反型层,如图1(c)所示。

vgs越大,作用于半导体表面的电场就越强,吸引到p衬底表面的电子就越多,导电沟道越厚,沟道电阻越小。我们把开始形成沟道时的栅-源极电压称为开启电压,用vt表示。

由上述分析可知,n沟道增强型mos管在vgs<vt时,不能形成导电沟道,管子处于截止状态。只有当vgs≥vt时,才有沟道形成,此时在漏-源极间加上正向电压vds,才有漏极电流产生。而且vgs增大时,沟道变厚,沟道电阻减小,id增大。

这种必须在vgs≥vt时才能形成导电沟道的mos管称为增强型mos管。

2.vds对id的影响。

如图2(a)所示,当vgs>vt且为一确定值时,漏-源电压vds对导电沟道及电流id的影响与结型场效应管相似。漏极电流id沿沟道产生的电压降使沟道内各点与栅极间的电压不再相等,靠近源极一端的电压最大,这里沟道最厚,而漏极一端电压最小,其值为vgd=vgs - vds,因而这里沟道最薄。但当vds较小(vds随着vds的增大,靠近漏极的沟道越来越薄,当vds增加到使vgd=vgs-vds=vt(或vds=vgs-vt)时,沟道在漏极一端出现预夹断,如图2(b)所示。

再继续增大vds,夹断点将向源极方向移动,如图2(c)所示。由于vds的增加部分几乎全部降落在夹断区,故id几乎不随vds增大而增加,管子进入饱和区,id几乎仅由vgs决定。

3.特性曲线和电流方程。

n沟道增强型mos管的输出特性曲线如图1(a)所示。与结型场效应管一样,其输出特性曲线也可分为可变电阻区、饱和区、截止区和击穿区几部分。转移特性曲线如图1(b)所示,由于场效应管作放大器件使用时是工作在饱和区(恒流区),此时id几乎不随vds而变化,即不同的vds所对应的转移特性曲线几乎是重合的,所以可用vds大于某一数值(vds>vgs-vt)后的一条转移特性曲线代替饱和区的所有转移特性曲线,与结型场效应管相类似。

在饱和区内,id与vgs的近似关系式为。

式中ido是vgs=2vt时的漏极电流id。

mos管的主要参数与结型场效应管基本相同,只是增强型mos管中不用夹断电压vp,而用开启电压vt表征管子的特性。

从结构上看,n沟道耗尽型mos管与n沟道增强型mos管基本相似,其区别仅在于栅-源极间电压vgs=0时,耗尽型mos管中的漏-源极间已有导电沟道产生,而增强型mos管要在vgs≥vt时才出现导电沟道。原因是制造n沟道耗尽型mos管时,在sio2绝缘层中掺入了大量的碱金属正离子na+或k+(制造p沟道耗尽型mos管时掺入负离子),如图1(a)所示,因此即使vgs=0时,在这些正离子产生的电场作用下,漏-源极间的p型衬底表面也能感应生成n沟道(称为初始沟道),只要加上正向电压vds,就有电流id。如果加上正的vgs,栅极与n沟道间的电场将在沟道中吸引来更多的电子,沟道加宽,沟道电阻变小,id增大。

反之vgs为负时,沟道中感应的电子减少,沟道变窄,沟道电阻变大,id减小。当vgs负向增加到某一数值时,导电沟道消失,id趋于零,管子截止,故称为耗尽型。沟道消失时的栅-源电压称为夹断电压,仍用vp表示。

与n沟道结型场效应管相同,n沟道耗尽型mos管的夹断电压vp也为负值,但是,前者只能在vgs<0的情况下工作。而后者在vgs=0,vgs>0,vp

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